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西安谊邦电子科技有限公司 
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| 供应半导体分立器件测试系统 |
西安厂家直供半导体分立器件测试系统
EN-2005B功率器件综合测试系统
系统概述
西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
设备用途
测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等
技术指标
主极电压: 10mV-2000V
主极电流： 100nA-50A
扩展电流： 100A、500A、1000A、1300A
电压分辨率： 1mV
电流分辨率： 1nA
测试精度： 0.2%+2LSB
测试速度： 0.5mS/参数
系统功耗： <150w
质 量： 35KG
尺 寸： 450x570x280mm
通信接口： RS232 USB
工作温度： 25-40°C
测试范围
测试范围 / 测试参数
序号 测试器件 测试参数
01 二极管
DIODE IR；BVR ；VF
02 晶体管
（NPN型/PNP型） ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；
BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF
03 J型场效应管
J-FET IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；
IDSS；GFS；VGSOFF
04 MOS场效应管 
MOS-FET IDSS；IDSV；IGSSF；  IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；
VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
05 双向可控硅
TRIAC VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
06 可控硅
SCR IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；
IGT；VGT；IL；IH
07 绝缘栅双极大功率晶体管
IGBT ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；
VGEON；VF；GFS
08 硅触发可控硅
STS IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；
VPK-；VGSW+；VGSW-
09 达林顿阵列
DARLINTON ICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；
BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；
VCESAT； VBESAT；VBE |
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